背光反射計(jì)
型 號:OBR
原產(chǎn)地:美國LUNA
用 途:光纖、光纜、短距離光網(wǎng)絡(luò)的質(zhì)檢;定位并提供光纖彎曲、熔接、連接頭、斷裂等的損耗數(shù)據(jù);同時(shí)測量光纖光纜中全部位置的插損和回?fù)p;光器件質(zhì)檢;可提供測量應(yīng)變和溫度變化的分布式光纖傳感功能;實(shí)時(shí)光路校準(zhǔn)。
背光反射計(jì)
型 號:OBR
原產(chǎn)地:美國LUNA
用 途:光纖、光纜、短距離光網(wǎng)絡(luò)的質(zhì)檢;定位并提供光纖彎曲、熔接、連接頭、斷裂等的損耗數(shù)據(jù);同時(shí)測量光纖光纜中全部位置的插損和回?fù)p;光器件質(zhì)檢;可提供測量應(yīng)變和溫度變化的分布式光纖傳感功能;實(shí)時(shí)光路校準(zhǔn)。
背光反射計(jì)
LUNA超高空間分辨率的背光反射計(jì)OBR提供背向散射級別的靈敏度,為光纖光學(xué)領(lǐng)域提供超強(qiáng)的檢測和診斷能力。OBR可以精確定位出光纖網(wǎng)絡(luò)在組裝過程中導(dǎo)致?lián)p耗的細(xì)微量,獲得無源器件插損和回?fù)p與長度的函數(shù)關(guān)系。OBR基于掃描波長相干探測原理測量器件中散射光損耗與位置的函數(shù)關(guān)系。
應(yīng)用
·光纖、光纜、短距離光網(wǎng)絡(luò)的質(zhì)檢
·定位并提供光纖彎曲、熔接、連接頭、斷裂等的損耗數(shù)據(jù)
·同時(shí)測量光纖光纜中全部位置的插損和回?fù)p
·光器件質(zhì)檢
·可提供測量應(yīng)變和溫度變化的分布式光纖傳感功能
·實(shí)時(shí)光路校準(zhǔn)
優(yōu)點(diǎn)
·微米級別的高空間分辨率,零死區(qū)
·靈敏度可達(dá)到-130dB
·單端連接,可調(diào)激光器的一次掃描,即可測得整條光鏈路上每個(gè)位置的插損、回?fù)p及偏振態(tài)數(shù)據(jù)
·可應(yīng)用于單模及多模光器件
·每次測量都進(jìn)行自校準(zhǔn)并符合NIST標(biāo)準(zhǔn)
OBR4600適合于實(shí)驗(yàn)室研究
優(yōu)點(diǎn)
·出類拔萃的10μm空間分辨率,零死區(qū)
·7s內(nèi)以10μm的分辨率完成30m的測量
·跟蹤光在傳輸過程中的偏振態(tài)變化
·同一臺(tái)設(shè)備,可以分析單模和多模光纖
光纖鏈路中回?fù)p與長度的關(guān)系曲線,光纖連接頭前方有一個(gè)插損為3dB的過度彎曲故障
OBR 4200適合于工程現(xiàn)場
優(yōu)點(diǎn)
·500m的測量長度,毫米級空間分辨率,零死區(qū)
·小巧、結(jié)實(shí)、便攜,適合于外場施工
·能夠“查看”單模和多模光器件或光網(wǎng)絡(luò)中的任何狀況
OBR4200測試一根有彎折和斷裂損耗的光纜
OBT5T-50適合于生產(chǎn)線
優(yōu)點(diǎn)
·業(yè)界出類拔萃的綜合性能,11.9Hz的采樣頻率,8.5m的測量長度(可選配最長長度至16m),0.015%的長度測量準(zhǔn)確度
·-125dB的靈敏度,20μm(兩點(diǎn)之間)高空間分辨率
·流暢的軟件界面,專門為方便生產(chǎn)線的操作而設(shè)計(jì)
·自動(dòng)定位反射事件,顯示插損、回?fù)p數(shù)據(jù)
MEMS光開關(guān)回?fù)p與位置的關(guān)系曲線。OBR5T-50具備20μm的空間分辨率,很容易分辨前兩個(gè)間距為5mm的反射峰